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吉越 章隆; 寺岡 有殿; 岡田 隆太; 山田 洋一*; 佐々木 正洋*
Journal of Chemical Physics, 141(17), p.174708_1 - 174708_7, 2014/11
被引用回数:8 パーセンタイル:29.6(Chemistry, Physical)酸素分子の並進エネルギーを2.2eVまで変えた時のGe(100)21表面の飽和酸化まで表面状態をその場放射光光電子で調べた。飽和吸着酸素量が1モノレイヤー以下であり、Si表面酸化と大きく異なり酸化数が+2までであることが分かった。直接活性化吸着によるGe成分の増加を伴う吸着量の促進を観測した。本研究は室温における酸素吸着プロセスの基礎的理解に貢献する。
吉越 章隆; 岡田 隆太; 寺岡 有殿; 山田 洋一*; 佐々木 正洋*
no journal, ,
Geはキャリアー移動度が優れることから次世代電子材料として注目されている。本会議では、OガスによってGe(100)-21表面に室温形成される酸化物とその酸素分子の入射エネルギーによる違いを放射光光電子分光によって研究した結果を報告する。飽和吸着量がモノレイヤー以下であること、Siと大きく異なり酸化物の酸化数が最大で+2であることが分かった。入射エネルギーの増加に伴い、酸素吸着量の増加とともにGe成分の増加が観測された。これらの知見はサブモノレイヤーのGe酸化物を精密に形成するうえで有用である。